作為小型器件典范的BGA器件近些年來在電子產品中應用非常廣泛,與QFP封裝器件或PLCC封裝器件相比,BGA器件具有引腳數目更多、引腳間電感及電容更小、引腳共面性好、電性能及散熱性能好等諸多優點。
雖然BGA器件有諸多方面的優點,但不足之處也十分明顯:即BGA器件在焊接完成之后,由于其焊點全部在器件本體腹底之下,因此既無法采用傳統的目測方法觀測檢驗全部焊點的焊接質量,也不能應用AOI(自動光學檢驗)設備對焊點外觀做質量評判,目前通用的方式均采用X-ray檢測設備對BGA器件焊點的物理結構進行檢驗。
X射線檢測裝備通過X射線的實時成像技術,實現對BGA器件焊接焊點的質量檢驗,X射線不能穿透錫、鉛等密度大且厚的物質,所以可形成深色影像,而X射線可以輕易穿透印制板及塑料封裝等密度小且薄的物質,不會形成影像,這樣的現象就可以從影像中判別BGA的焊接質量。
BGA器件焊點缺陷主要有焊料橋連、焊錫珠、空洞、錯位、開路和焊料球丟失、焊接連接處破裂、虛焊等。
由于焊料橋連最終導致的結果就是電氣短路,因此BGA器件焊接后,各相鄰焊料球之間應無焊料橋連。這種缺陷在采用X-ray檢驗設備檢驗時比較明顯,在影像區內可見焊料球與焊料球之間呈現連續的連接,容易觀察和判斷。虛焊缺陷也可以通過旋轉X射線角度進行檢驗,從而及時采取有效措施避免它的發生。
利用X射線檢測裝備對BGA器件焊接質量進行檢驗是一種高性價比的檢驗手段。隨著新技術的發展,超高分辨率、智能化的X-ray檢驗設備不僅會為BAG器件組裝提供省時、省力、可靠的保障,也能夠在電子產品故障分析中扮演重要的角色,提高故障排查效率。
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